服務(wù)熱線：15766191432產(chǎn)品到哪里，服務(wù)到哪里 !
products category
Related articles
美國唐納森donaldson半導(dǎo)體過濾器的產(chǎn)品介紹
2024-08-30 美國ILT2400 手持式照度計-UV輻射度計(有NIST報告)的介紹
2024-07-25 美國Smalley的O形密封圈 Q series應(yīng)用和特性介紹
2024-07-12 EXL-850電去離子裝置 高壽命EDI離子膜（snowpure-edi）的介紹
2024-07-01 美國Eletropure EDI工業(yè)型標(biāo)準(zhǔn)型系列EXL電去離子裝置的介紹
2024-07-01 產(chǎn)品中心/ products
美國filmetrics 薄膜測量儀F10-AR-UV增透膜測量輕松且經(jīng)濟(jì)地測量減反射涂層和硬質(zhì)涂層F10-AR 是首的款專為簡單、經(jīng)濟(jì)實(shí)惠的眼科抗反射 (AR) 涂層測量而設(shè)計的儀器。 AR 涂層測量儀器的成本只是當(dāng)今使用的大多數(shù)儀器的一小部分，它包含多項(xiàng)專有的技術(shù)，使生產(chǎn)線操作員只需經(jīng)過幾分鐘的培訓(xùn)，即可在幾秒鐘內(nèi)獲得結(jié)論性的讀數(shù)。最小、最大和平均反射率可以在任意數(shù)量的用戶定義的
產(chǎn)品型號：F10-AR-UV廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商更新時間：2024-11-21訪 問 量：879
立即咨詢
聯(lián)系電話：
| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地 | 進(jìn)口 |
|---|
美國filmetrics 薄膜測量儀F10-AR-UV增透膜測量
輕松且經(jīng)濟(jì)地測量減反射涂層和硬質(zhì)涂層
F10-AR 是首的款專為簡單、經(jīng)濟(jì)實(shí)惠的眼科抗反射 (AR) 涂層測量而設(shè)計的儀器。 AR 涂層測量儀器的成本只是當(dāng)今使用的大多數(shù)儀器的一小部分，它包含多項(xiàng)專有的技術(shù)，使生產(chǎn)線操作員只需經(jīng)過幾分鐘的培訓(xùn)，即可在幾秒鐘內(nèi)獲得結(jié)論性的讀數(shù)。最小、最大和平均反射率可以在任意數(shù)量的用戶定義的波長范圍內(nèi)進(jìn)行通過/不通過測試。特殊的算法可以校正由硬涂層引起的局部反射率失真。我們專有的 AutoBaseline 功能可大幅增加基線間隔，其精度比其他基于光纖探頭的反射率測量系統(tǒng)高出五倍。測量硬涂層厚度 0。25-15μm，帶有我們可選的 UPG-F10-AR-HC 軟件升級。即使存在 AR 層，測量硬涂層厚度也沒有問題。
無需背面準(zhǔn)備
我們獨(dú)的特的探頭設(shè)計可在 1.5 毫米厚的基板上抑制 98% 的背面反射，在更厚的透鏡上抑制更多。與我們所有的薄膜測量系統(tǒng)一樣，F(xiàn)10-AR 可連接到 Windows® 計算機(jī)的 USB 端口，并在幾分鐘內(nèi)完成設(shè)置。
美國filmetrics 薄膜測量儀F10-AR-UV增透膜測量
輕松且經(jīng)濟(jì)地測量減反射涂層和硬質(zhì)涂層
F10-AR 是首的款專為簡單、經(jīng)濟(jì)實(shí)惠的眼科抗反射 (AR) 涂層測量而設(shè)計的儀器。 AR 涂層測量儀器的成本只是當(dāng)今使用的大多數(shù)儀器的一小部分，它包含多項(xiàng)專有的技術(shù)，使生產(chǎn)線操作員只需經(jīng)過幾分鐘的培訓(xùn)，即可在幾秒鐘內(nèi)獲得結(jié)論性的讀數(shù)。最小、最大和平均反射率可以在任意數(shù)量的用戶定義的波長范圍內(nèi)進(jìn)行通過/不通過測試。特殊的算法可以校正由硬涂層引起的局部反射率失真。我們專有的 AutoBaseline 功能可大幅增加基線間隔，其精度比其他基于光纖探頭的反射率測量系統(tǒng)高出五倍。測量硬涂層厚度 0。25-15μm，帶有我們可選的 UPG-F10-AR-HC 軟件升級。即使存在 AR 層，測量硬涂層厚度也沒有問題。
無需背面準(zhǔn)備
我們獨(dú)的特的探頭設(shè)計可在 1.5 毫米厚的基板上抑制 98% 的背面反射，在更厚的透鏡上抑制更多。與我們所有的薄膜測量系統(tǒng)一樣，F(xiàn)10-AR 可連接到 Windows® 計算機(jī)的 USB 端口，并在幾分鐘內(nèi)完成設(shè)置。
掃一掃
您的位置：
在線咨詢
返回頂部