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emic紫外線強度計 磁粉探傷 測量高亮度 探傷機UV-D3的介紹用于控制紫外線強度。用于控制黑光的紫外線強度。波長為355-375納米(nm)具有峰值保持功能。易于閱讀的數字顯示。
 產品型號:UV-D3
產品型號:UV-D3 廠商性質:經銷商
廠商性質:經銷商 更新時間:2023-04-13
更新時間:2023-04-13 訪  問  量:992
訪  問  量:992 立即咨詢
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| 產地 | 國產 | 
|---|
emic紫外線強度計 磁粉探傷 測量高亮度 探傷機UV-D3的介紹
emic紫外線強度計 磁粉探傷 測量高亮度 探傷機UV-D3的介紹
用于控制紫外線強度。
用于控制黑光的紫外線強度。
波長為355-375納米(nm)
具有峰值保持功能。
易于閱讀的數字顯示。
該表面磁場測量儀是用于“JIS Z 2320 磁粉探傷"的高斯計。
由于可以在一次測量中測量測試對象的表面磁通密度(目標表面磁場估計),
有助于縮短測試時間和提高準確性。
●外推磁場估計(配備霍爾元件2ch)
●真有效值交流測量
●電池驅動/手持型
emic磁場測量的高斯計 磁粉探傷 測磁通密度GMS-103的介紹
黑光系列
功耗約為傳統的1/7。紫外線波長
采用355-375納米(nm)LED,
最大中心強度約為 13mW/cm2,因此即使是很小的劃痕也能應對。
此外,還安裝了脈沖模式以優化圖像處理型磁粉探傷。
手持型
與手持式磁粉探傷儀結合使用。
只需將其連接到插座即可使用。
重量輕