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2025-06-20 產品中心/ products
 
 
日本photonic-lattice膜厚分布測量檢測儀ME-210/ME-210-T這是一款高速映射橢圓儀,可以測量 φ8″ 晶圓的整個表面(最大?300 mm 是可選的),可以高速和高密度測量 1 nm 或更小的膜厚度變化。它支持各種膜厚分布測量。
 產品型號:ME-210/ME-210-T
產品型號:ME-210/ME-210-T 廠商性質:經銷商
廠商性質:經銷商 更新時間:2023-04-07
更新時間:2023-04-07 訪  問  量:1394
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日本photonic-lattice膜厚分布測量檢測儀ME-210/ME-210-T
日本photonic-lattice膜厚分布測量檢測儀ME-210/ME-210-T
這是一款高速映射橢圓儀,可以測量 φ8″ 晶圓的整個表面(最大?300 mm 是可選的),可以高速和高密度測量 1 nm 或更小的膜厚度變化。它
支持各種膜厚分布測量。
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| 重復性 | 
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| 光源 | 
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| 入射角 | 
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| 尺寸 (寬 x 深 x 高) | 
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| 兼容透明基材 | 
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| 舞臺尺寸 | 
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| 尺寸 (寬 x 深 x 高) | 
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| 重量 | 
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| 界面 | 
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| 界面 | 
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| 電源 | 
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| 軟件 | 
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| 配件 | 
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