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 更新時(shí)間:2025-10-15
更新時(shí)間:2025-10-15       瀏覽次數(shù):23
瀏覽次數(shù):23熒光X射線式膜厚計(jì)是一種利用X射線熒光技術(shù),對(duì)材料表面的鍍層、涂層或薄膜厚度進(jìn)行非破壞性、高精度測量的高的端分析儀器。
其工作原理基于原子物理,過程如下:
X射線激發(fā):儀器內(nèi)部的X射線管產(chǎn)生高能初級(jí)X射線,照射到被測樣品表面。
產(chǎn)生特征X射線:初級(jí)X射線將樣品中原子內(nèi)層的電子“擊飛",形成空穴。此時(shí),處于外層的高能電子會(huì)迅速躍遷來填充這個(gè)空穴,并同時(shí)釋放出具有特定能量的次級(jí)X射線,即 “特征X射線"或“熒光X射線"。每種元素所釋放的特征X射線能量都是獨(dú)的一的無的二的,如同人類的“指紋"。
信號(hào)探測與處理:高精度的探測器(如硅漂移探測器SDD)接收這些特征X射線信號(hào)。
定性分析:通過分析特征X射線的能量,確定樣品中含有哪些元素(例如,金Au、鎳Ni、錫Sn等)。
定量分析:通過測量特定元素特征X射線的強(qiáng)度(計(jì)數(shù)),來計(jì)算出該元素構(gòu)成的薄膜厚度。膜層越厚,該元素的熒光信號(hào)就越強(qiáng)。儀器內(nèi)置的軟件通過預(yù)先建立的校準(zhǔn)曲線,將強(qiáng)度值精確轉(zhuǎn)換為厚度值。
絕對(duì)非破壞性:測量過程不會(huì)接觸、損傷或污染樣品,測量后產(chǎn)品可完的全正常使用,適用于貴重品和成品的100%檢驗(yàn)。
極的高的精度和重復(fù)性:可輕松達(dá)到納米級(jí)甚至亞納米級(jí)的測量精度和重現(xiàn)性,是高的端質(zhì)量控制的有力保障。
多層/多元素同時(shí)測量:可一次性快速測量復(fù)雜的多層結(jié)構(gòu)。例如,可以同時(shí)測量PCB上“金-鎳-銅"基材的金層厚度和鎳層厚度。
廣泛的元素分析范圍:可測量從鎂到鈾的多種元素,覆蓋了幾乎所有工業(yè)鍍層材料,如Au, Ag, Sn, Ni, Cu, Cr, Zn, Pd等。
快速高效:通常單個(gè)測量點(diǎn)的分析時(shí)間在幾秒到一分鐘之內(nèi),極大提升了檢測效率,適合生產(chǎn)線旁的快速抽檢或全檢。
操作智能化與簡便化:現(xiàn)代機(jī)型配備大型觸摸屏和直觀的圖形化操作軟件,操作人員經(jīng)過簡單培訓(xùn)即可上手。軟件通常具備自動(dòng)識(shí)別、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)、統(tǒng)計(jì)分析和報(bào)告生成功能。
電子元器件與PCB/PCBA:
測量連接器、引線框架、接點(diǎn)的金、銀、鎳、錫鍍層厚度。
檢測BGA焊球、芯片貼裝部位的鍍層。
半導(dǎo)體封裝:
測量晶圓凸塊、焊盤、導(dǎo)線上的金、銅、錫銀合金等薄膜厚度。
汽車工業(yè):
確保發(fā)動(dòng)機(jī)控制單元、安全氣囊傳感器等關(guān)鍵電子部件接插件的鍍層質(zhì)量與可靠性。
珠寶與裝飾品:
精確檢測首飾、手表、眼鏡架等物品表面的貴金屬鍍層厚度(如金、銠、鉑),用于品質(zhì)鑒定和防欺詐。
功能性薄膜與新材料:
測量玻璃或柔性基板上的ITO(氧化銦錫)透明導(dǎo)電膜厚度。
分析各種科研或工業(yè)用功能性涂層的厚度。
SEA系列:這是理學(xué)最的經(jīng)的典、市場認(rèn)可度極的高的系列。例如SEA1000A/SEA1200等型號(hào),以其無的與的倫的比的穩(wěn)定性、精度和易用性成為電子電鍍行業(yè)的標(biāo)配。
SEA-X系列:在SEA系列基礎(chǔ)上,采用了更先進(jìn)的探測器和技術(shù),分析速度更快,對(duì)微量元素的檢測能力更強(qiáng)。
Supermini系列:臺(tái)式波長色散XRF光譜儀,功能更強(qiáng)大,精度極的高,不僅可用于膜厚測量,還可進(jìn)行精確的元素成分分析,常用于研發(fā)中心和高的端質(zhì)量控制實(shí)驗(yàn)室。
初始投資高:設(shè)備和后續(xù)的維護(hù)、校準(zhǔn)成本都比較高昂。
依賴校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片:為了獲得最高的絕對(duì)精度,需要使用經(jīng)過認(rèn)證的、已知厚度的標(biāo)準(zhǔn)片來建立校準(zhǔn)曲線。
對(duì)樣品形狀有要求:樣品需要相對(duì)平整,并能完的全覆蓋測量孔徑,否則會(huì)因散射和幾何位置偏差影響測量結(jié)果的準(zhǔn)確性。
無法區(qū)分元素化學(xué)態(tài):只能測量元素的總量,無法區(qū)分其價(jià)態(tài)或化合物形態(tài)(例如,無法區(qū)分錫Sn和氧化錫SnO?)。
您所尋找的“日本DENSOKU熒光X射線式膜厚計(jì)",在行業(yè)語境下,極有可能指向的是日本理學(xué) 的產(chǎn)品。它是現(xiàn)代精密制造業(yè)中保證產(chǎn)品質(zhì)量、進(jìn)行過程控制的不的可的或的缺的工具
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