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更新時間：2024-03-15 
瀏覽次數(shù)：388otsuka大塚電子 非接觸式超高速、高精度測量晶圓和樹脂的厚度計(jì)SF-3
| 在晶圓等研磨、拋光過程中，可以非接觸式超高速、高精度測量晶圓和樹脂的厚度。 |
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產(chǎn)品信息
規(guī)格
設(shè)備配置
映射
測量示例
光學(xué)方法可實(shí)現(xiàn)非接觸式、無損厚度測量
實(shí)現(xiàn)高測量重復(fù)性
可實(shí)現(xiàn)高速實(shí)時拋光監(jiān)控
實(shí)現(xiàn)長WD（工作距離）并且易于集成到設(shè)備中
由主機(jī)設(shè)備使用 LAN 通過 TCP/IP 通信進(jìn)行控制
可測量多層厚度
能夠測量臨時晶圓（臨時鍵合晶圓）各層厚度
厚度測量（5層）
各種晶圓（硅及其他化合物晶圓）厚度測量
融入研磨、拋光、粘合等各種工藝中
晶圓以外的厚膜部件的厚度測量
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